X射線探傷儀檢驗(yàn)規(guī)程

X射線探傷簡介  

射線探傷是利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內(nèi)部缺陷，如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體積性缺陷。這種無損探傷方法有*的*性，即檢驗(yàn)缺陷的直觀性、準(zhǔn)確性和可靠性，而且，得到的射線底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。但此法也存在著設(shè)備較復(fù)雜、成本較高的缺點(diǎn)，并需要對射線進(jìn)行防護(hù)。    

X射線的產(chǎn)生  

用來產(chǎn)生X射線的裝置是X射線管。它由陰極、陽極和真空玻璃（或金屬陶瓷）外殼組成，其簡單結(jié)構(gòu)和工作原理如圖1所示。陰極通以電流加熱至白熾狀態(tài)時(shí)，其陽極周圍形成電子云，當(dāng)在陽極與陰極間施加高壓時(shí)，電子加速穿過真空空間，高速運(yùn)動的電子束集中轟擊陽極靶子的一個(gè)面積（幾平方毫米左右、稱實(shí)際焦點(diǎn)），電子被阻擋減速和吸收，其部分動能（約1%）轉(zhuǎn)換為X射線,其余99%以上的能量變成熱能。

X射線的主要性質(zhì) 

•不可見，以光速直線傳播。 

•具有可穿透可見光不能穿透的物質(zhì)如骨骼、金屬等的能力，并且在物質(zhì)中有衰減的特性。 •可以使物質(zhì)電離，能使膠片感光，亦能使某些物質(zhì)產(chǎn)生熒光。   

γ射線的產(chǎn)生及性質(zhì) 

γ射線是由放射性物質(zhì)（60Co、192Ir等）內(nèi)部原子核的衰變過程產(chǎn)生的。 

γ射線的性質(zhì)與X射線相似，由于其波長比X射線短，因而射線能量高，具有更大的穿透力。例如，目前廣泛使用的γ射線源60Co，它可以檢查250mm厚的銅質(zhì)工件、350mm厚的鋁制工件和300mm厚的鋼制工件。   

射線與物質(zhì)的相互作用 

當(dāng)射線穿透物質(zhì)時(shí)，由于物質(zhì)對射線有吸收和散射作用，從而引起射線能量的衰減。 射線在物質(zhì)中的衰減是呈負(fù)指數(shù)規(guī)律變化的，以強(qiáng)度為I0的一束平行射線束穿過厚度為δ的物質(zhì)為例，穿過物質(zhì)后的射線強(qiáng)度為： 

I=I0e－μδ 

式中： 

I：射線透過厚度δ的物質(zhì)的射線強(qiáng)度； I0：射線的初始強(qiáng)度；